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Siemens Calibre 官方技术博客· Calibre IC Design & Manufacturing·· 2026-08-25AI 评分45

技术与产品 / 摘要阅读

为何曲线型 OPC 需要全新的优化方法

Why curvilinear OPC demands a new optimization approach

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随着半导体进入 sub-5 nm 节点,曲线型掩模特征使传统将碎片化位点与 EPE 锚点刚性耦合的 OPC 方法失效,团队被迫在掩模数据膨胀与 EPE 控制之间取舍。

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