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解决 CFET 与背面供电的寄生提取挑战
Solving the extraction challenges of CFET and backside power
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Siemens Calibre xACT 支持 CFET 建模，并覆盖正面与背面金属层、界面、硅通孔及复杂布线图形的提取，用于分析 CFET 与埋入式电源轨结构中的寄生电阻和电容。
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